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          首頁 > 產品中心 > 電性表征測試 > 全自動 探針臺 Semishare
          		
          
		
          
		
          
			
          
				
          
						
        1. 光學3D顯微輪廓測量


          2. 
	
        2. 原子力臺階儀


          3. 
	
        3. 表面缺陷檢測


          4. 
	
        4. 薄膜厚度表征


          5. 
	
        5. 電性表征測試


          6. 
	
        6. 微納加工設備


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					全自動 探針臺 Semishare				
          
				
          
				
          
					
          
																				
          
									
          
										
          A系列 全自動探針臺
										
          
										
          
											
          
												全自動 探針臺 Semishare
											
          
											
          
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兼容12寸平臺
          
CHUCK高效測試系統，運行速度超200mm/s
          
可升級自動wafer厚度測量和ID讀卡											
          
											
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