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        1. 3D表面輪廓粗糙度


          2. 
	
        2. 表面缺陷檢測


          3. 
	
        3. 薄膜膜厚檢測


          4. 
	
        4. 電性表征測量


          5. 
				
          
				
          
				
          
					
          咨詢熱線：400-1059178					
          
					
          
						
            
							
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            團隊超20年的從業經驗，熟知光學、光譜、電性等行業測試，我會在最快的時間與您聯絡；
            
							
            
								
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          銷售：廖經理
          
						
          手機：18620906383
          
						
          
					
          
				
          
			
          
			
          
				
          
					
          
						
          
							
							
						
          
					
          
					
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					RF射頻測試				
          
				
          
				
          
					
          
																				
          
									
          
										
          H系列綜合性手動探針臺
										
          
										
          
											
          
												小型手動探針臺 Semishare											
          
											
          
												H系列綜合性手動探針臺											
          
											
          
												更高效率和穩定性，擴容至12寸
          
兼容6/8/12寸平臺
          
卡盤移動技術，可滿足客戶對整片晶圓高效測試的需求
          
可搭配不同的套件實現更寬泛的測試功能											
          
											
          目錄下載
											
          
										
          
									
          
									
          
									
          
										
          
											
          
												點擊查詢
											
          
										
          
										
          
											
          
												
          
													
          
														
          
													
          
												
          
											
          
										
          
									
          
								
          
												
          
					
          
					
          
																
          
				
          
				
          
					
          咨詢熱線：400-1059178					
          
					
          
						
            
							
            留言板 -
            
							
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