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          400-1059178
          首頁 > 測量項目 > 3D表面輪廓粗糙度 > 粗糙度/臺階/角度/ 弧度 (探針接觸式)

          粗糙度/臺階/角度/ 弧度 (探針接觸式)

          PARK FX40
          亞納米 全自動原子力顯微鏡

          PARK FX40

          全過程 自動化操作 產線流水設計
          全自動更換探針
          雙攝像頭 自動識別掃碼
          自動激光校準 全過程自動化操作
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          PARK XE7
          亞納米 半自動原子力顯微鏡

          PARK XE7

          創新研究的經濟之選
          所獨有的True Non-Contact?模式
          開源的設計 允許您整合其他附件
          簡潔的圖形用戶界面和自動化工具
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          PARK NX10
          亞納米 半自動原子力顯微鏡

          PARK NX10

          創新研究的最佳途徑
          獨有的True Non-Contact?模式 可編程自動化測量
          Park消除串擾技術 亞納米可靠性
          掃描離子電導顯微鏡模塊 豐富應用領域
          性價比高 經濟首選
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          PARK NX12
          亞納米 半自動原子力顯微鏡

          PARK NX12

          用于分析化學 最全面的AFM
          電化學測試的絕佳平臺
          原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電、磁、熱和機器性能測量的能力。
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          Tencor? P-7
          納米級 全自動接觸式臺階儀

          Tencor? P-7

          全自動 接觸式臺階儀
          全自動 更高精度 更高效率
          全電動150mmXY級、Z級,360° θ階段
          垂直范圍1.2mm
          頂部模式識別視圖或側視圖測量可視化
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          Tencor? D-300
          納米級 半自動接觸式臺階儀

          Tencor? D-300

          手動型接觸式臺階儀
          粗糙度 臺階高精度測量的經濟首選
          手動140mm平臺
          垂直范圍1mm
          用于測量可視化的側視圖光學系統
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          Tencor? D-600
          納米級 半自動接觸式臺階儀

          Tencor? D-600

          半自動接觸式臺階儀
          粗糙度 臺階高精度測量的高性價比
          XY自動平臺 200mm平臺
          垂直范圍1.2mm
          用于測量可視化的側視圖光學系統
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